三建技術課程
2025/05/20(二),09:30-16:30
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★將詳細說明如何執行符合美國AEC-Q100標準的測試，以及日本版AEC-Q100規範EDR-4708的使用方法！
★深入探討電動車(EV)用功率半導體和SiC（碳化矽）元件的可靠性問題，並介紹最新話題！
車載半導體的供應不足，導致新車交貨延遲，供應鏈重要性引起全球關注。隨著電動車(EV)的快速普及以及安全保障的考量，半導體在未來的發展會發生重大變化。
車載半導體的可靠性認證指南由美國三大車廠主導制定的AEC-Q100/101目前正成為全球標準。然而，AEC-Q100存在需要大量樣本和長時間測試的問題，這會導致評估成本龐大。同時，日本於2011年發布了車載認證指南JEITA ED-4708，並在2017年7月於IEC進行了國際標準化（IEC 60749-43），目前已經重新編排至IEC 63827系列。
本課題將深入探討AEC-Q100的測試要求、問題點及日本版的AEC-Q100規範EDR-4708的使用方法。此外，隨著電動車用功率半導體的興起，尤其SiC(碳化矽)元件的普及期，雖然其可靠性挑戰仍在進行中，課題內也會詳細討論SiC元件的相關議題。
【習得知識】
．半導體產品的物理與化學壽命預測方法的理解。
．基於故障物性進行壽命預測的信賴性評估計畫與國際標準化趨勢。
【大綱目次】
一、車載用半導體積體電路的動向
1-1 車載用半導體積體電路的技術發展趨勢
．民用產品與車載產品之間的質量和可靠性差異
二、車載用半導體的可靠性要求
2.1 基於加速測試的可靠性要求
．溫度加速、溫差加速、電壓加速、濕度加速的測試方法
2.2 事例介紹
．實際的加速率、可靠性水平計算示例
三、半導體積體電路的認證指南
3-1 AEC-Q100內容及其原則
．測試流程、條件及問題
3-2 JEITA ED-4708內容及其原則
．品質保證理念、樣本數量及測試條件
3-3 國際標準化的進展
．車載認證規範的未來方向
四、利用任務配置文件進行可靠性測試設計
．高溫保證下的元件可靠性保障策略
五、SiC元件的可靠性挑戰及國際標準趨勢
．SiC元件的特性與面臨的挑戰
．SiC元件閘極可靠性與AC-BTI（交流電阻熱衰退）測試要點
日本Toshiba退役專家
東芝任職期間，負責半導體品質保證、產品可靠性等相關技術工作。
退休之後擔任JEITA可靠性技術委員會主審、日本科學技術可靠性品質研究會運營委員
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